XPE26 微量分析天平
XPE 微量分析天平將最大秤量與最小秤量有機的結(jié)合在一起。 可直接在較大的去皮容器中加樣，從而有效的節(jié)省貴重的原材料并 大幅降低實驗成本。
- 品牌： METTLER/梅特勒
- 型號： XPE26
- 其他型號：
最大秤量22 g
可讀性1 μg
最小稱量值 (USP)，典型值1.4 mg
重復(fù)性（校驗砝碼）0.004 mg (1 g)
線性誤差（典型值）±0.01 mg
穩(wěn)定時間3.5 s
尺寸 (高x寬)322 mm x 263 mm
秤盤外形尺寸(深x寬)40 mm x 40 mm